太阳能电池硅片测厚仪CHY-G适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

        太阳能电池硅片测厚仪CHY-G采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性，适用于箔片、硅片的厚度测试,也称为电池硅片厚度测量仪、硅片厚度仪和单晶硅片厚度测定仪等。

硅片厚度试验仪

       太阳能电池硅片测厚仪CHY-G主要参数

       产品名称：测厚仪

       测试范围：0～5mm

       分辨率：0.1um

       测量压力：17.5±1kPa（薄膜）

                         50±1kPa(纸张)

       测量方式：机械接触式

       接触面积：50mm²（薄膜）

       200mm² (纸张)；

       外形尺寸：330mm×240mm×420mm

       电源:AC 220V    50Hz

       净重:10kg

         技术优势

        ■七英寸高清触控屏操作

       ■测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差

       ■严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制

       ■支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能

       ■配备微型打印机，快速打印每次测量结果及统计大小值、平均值

       ■测试软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户

       ■配备标准数据接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输